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综合布线技术综述

[06-11 18:19:15]   来源:http://www.xxk123.com  综合布线   阅读:8591

导读: 对垂直子系统中的多芯双绞线之衰减测试,其结果不大于表(2)所示的值视为通过。 表(2) (3)近端串扰(NEXT)测试 近端串扰对本身终接点(跳线架、信息插座)处的非双绞线金属介质很敏感,同时,对粗劣的安装也非常敏感。例如在终点处的不绞线长度至多不能超过13mm(对五类线而言),或25mm(对四类线而言)等。因此,对NEXT的测试相当重要。 NEXT(dB)=20log10Vn/Vi Vi 输入值(也是正常电压值),Vn是所产生干扰信号,因为 Vn 测试对象:五类产品的联合测试。 测试条件:五类线及相关产品实现从1.0MHZ—100MHZ测试,测试温度为20℃—30℃;信息点到配线架距离不超过90米。 测试仪器采用美国福禄克公司的FLUKE—200或FLUKE—400测试仪。 测试结果:测试结果将显示在仪器上,一般显示通过或不通过,显示的测试结果不应超过表(3)所示之值。

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     对垂直子系统中的多芯双绞线之衰减测试,其结果不大于表(2)所示的值视为通过。
    
    
     表(2)
    
    
    
    
     (3)近端串扰(NEXT)测试
    
     近端串扰对本身终接点(跳线架、信息插座)处的非双绞线金属介质很敏感,同时,对粗劣的安装也非常敏感。例如在终点处的不绞线长度至多不能超过13mm(对五类线而言),或25mm(对四类线而言)等。因此,对NEXT的测试相当重要。
    
     NEXT(dB)=20log10Vn/Vi
    
     Vi 输入值(也是正常电压值),Vn是所产生干扰信号,因为 Vn< Vi,下面表中出现的NEXT值实为负数。
    
     测试对象:五类产品的联合测试。
    
     测试条件:五类线及相关产品实现从1.0MHZ—100MHZ测试,测试温度为20℃—30℃;信息点到配线架距离不超过90米。
    
     测试仪器采用美国福禄克公司的FLUKE—200或FLUKE—400测试仪。
    
     测试结果:测试结果将显示在仪器上,一般显示通过或不通过,显示的测试结果不应超过表(3)所示之值。(注意,表中值为负数)
    
    
     表(3)
    
    
    
    
     对垂直子系统中的多芯双绞线之测试,其结果如表(4)所示的值视为通过。
    
    
     表(4)
    
    
    
    
     2.光缆系统的测试
    
     由于在光缆系统的实施过程中,涉及到光缆的镉铺设,光缆的弯曲半径,光纤的熔接、跳线,更由于设计方法及物理布线结构的不同,导致两网络设备间的光纤路径上光信号的传输衰减有很大不同。
    
     邵阳广电办公大楼综合布线系统的设计,完全遵循EIA/TIAS568的标准进行,使用星型的物理拓扑结构。这样,任两个网络设备连接时,其间光信号的传输衰减可绝对限制在FDDI或IEEE802.3FOIRL规定的范围之内。
    
     根据标准规定和设计方法,应充分保证任两段已熔接好的光缆中的光纤,连同跳线与连接线一起,总的衰减应在10dB(850nm)之内。
    
     测试条件:熔接后的光缆连同跳线的综合测试:被测光纤规格62.5/125微米多模光纤。

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